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  • EMKU冷热冲击试验箱怎么挑?关键性能参数看这3点

    2025-08-21 EMKU冷热冲击试验箱用于模拟高低温快速切换环境,考核电子、汽车、航空航天等领域产品的耐温冲击性能。挑选时无需盲目关注附加功能,重点把控以下3个关键性能参数,即可选出适配需求的高性价比设备。​一、关键参数1:温度冲击能力——匹配试验严苛度​温度冲击能力是核心指标,需结合试验标准(如IEC60068-2-14)与产品特性选择,主要看两方面:​温度范围:常规型号高温区上限多为150℃、200℃,低温区下限为-40℃、-60℃;若测试新能源电池、航空部件,需选高温达250℃、低温至...
  • 材料表征测试数据的处理与分析技巧全解析

    2025-07-23 材料表征测试数据是深入了解材料性能、结构等关键信息的依据,掌握其处理与分析技巧至关重要。在数据处理方面,首先要进行数据的整理与筛选。从各类仪器获取的原始数据往往量大且繁杂,需剔除明显异常的数据点,比如因仪器突发故障或外界干扰产生的错误数值。对于重复测量的数据,可计算平均值来降低偶然误差的影响,但要注意保留数据的标准差等反映离散程度的指标,以展现数据的可靠性范围。同时,要根据测试手段的特性对数据进行适当的单位换算、归一化处理等,像X射线衍射数据中将不同角度的强度值进行归一化,便...
  • 半导体HBM测试仪延长使用寿命的建议

    2025-06-12 随着半导体技术的不断发展,高带宽存储器(HBM,HighBandwidthMemory)因其较好的数据传输性能,在高性能计算、人工智能和图形处理等领域得到广泛应用。而半导体HBM测试仪作为评估其电气性能与信号完整性的重要设备,承担着确保产品质量和稳定性的关键任务。为了充分发挥HBM测试仪的投资效益,延长其使用寿命,必须从日常使用、维护保养以及环境管理等多个方面入手。一、规范操作流程,避免人为误操作HBM测试仪结构精密,涉及高速信号采集、电源管理、探针定位等复杂系统。因此,操作...
  • EMKU高低温箱核心技术原理深度剖析

    2025-05-16 EMKU高低温箱是一种广泛应用于电子、汽车、航空航天、材料科学等领域的环境模拟设备,能够模拟高温、低温及温度循环等多种环境条件,用于测试产品在不同温度下的性能稳定性、耐候性和可靠性。其核心功能的实现依赖于一系列精密设计和先进控制技术的结合。本文将对EMKU高低温箱的核心技术原理进行深入剖析。一、制冷系统:实现低温环境的关键其低温部分主要依靠压缩机制冷系统来实现。该系统通常采用复叠式制冷结构,由高温级和低温级两个独立压缩机组成。高温级压缩机负责预冷,低温级压缩机则通过低温制冷剂...
  • TET静电测试仪的环境适应性测试

    2024-07-25 静电现象在工业生产和日常生活中普遍存在,尤其是在电子制造、半导体和精密机械等领域,静电防护显得尤为重要。TET静电测试仪作为一种高精度、高可靠性的测试设备,广泛应用于各种静电敏感环境中。为了确保其在不同环境条件下的稳定性和准确性,环境适应性测试成为了关键的一环。一、环境适应性测试的重要性环境适应性测试旨在评估设备在各种异常环境条件下的性能表现,确保其能够在实际应用环境中可靠运行。对于TET静电测试仪而言,其工作环境可能包括高温、低温、高湿、低湿、电磁干扰等多种复杂条件。通过环...
  • 日本半导体HBM测试仪的校准与标定方法

    2024-07-15 日本半导体HBM测试仪是一种用于评估电子元器件在人体静电放电(ESD)条件下性能的测试设备。由于其在半导体制造和测试中的重要性,确保其准确性和可靠性至关重要。本文将详细介绍日本半导体HBM测试仪的校准与标定方法。1.校准与标定的重要性校准与标定是确保测试仪器准确性和可靠性的关键步骤。通过定期校准与标定,可以消除设备在使用过程中由于环境变化、机械磨损等因素引起的测量误差,保证测试结果的准确性。2.校准与标定的基本步骤半导体HBM测试仪的校准与标定主要包括以下几个步骤:-准备工作...
  • 日本TET静电ESD测试仪在不同行业中的应用前景

    2024-04-26 随着电子技术的飞速发展,静电放电(ESD)问题已经成为影响电子产品质量和可靠性的重要因素。日本TET静电ESD测试仪作为一种先进的静电测试设备,在电子制造业、通讯行业、航空航天、医疗设备等不同领域具有广泛的应用前景。本文将探讨静电ESD测试仪在这些行业中的应用前景。一、电子制造业在电子制造业中,静电放电可能导致电子元件损坏、性能下降甚至产品失效。静电ESD测试仪可以准确地测量静电放电的强度和敏感性,帮助企业及时发现并解决静电问题,提高产品质量和可靠性。二、通讯行业在通讯行业中...
  • 闩锁试验机台的关键功能与应用探析

    2024-03-24 在半导体集成电路领域,闩锁效应(Latch-up)是一种常见的故障模式,它会导致电路内部形成低阻通路,从而引发过电流、过热甚至器件长久性损坏。为有效防止此类失效现象,确保电子产品的可靠性和安全性,闩锁试验机台作为一种专业测试设备应运而生,并在实际应用中发挥着至关重要的作用。首先,该设备的核心功能在于模拟和检测集成电路中的闩锁效应。其通过精密的电压应力源以及电流监控系统,可以精确控制施加于芯片上的电源电压、瞬态电流等参数,以触发并观察潜在的闩锁现象。该设备能够根据国际标准如JE...
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