技术文章

TECHNICAL ARTICLES

当前位置:首页技术文章

  • LONGPEAK静电放电发生器操作常见误区及避免方法

    2025-08-25 LONGPEAK静电放电发生器是模拟静电放电场景、考核电子电气产品抗静电性能的关键设备,广泛用于家电、汽车电子、通信设备等领域的EMC测试。操作中若存在误区,易导致测试数据失真、设备损坏,甚至引发安全隐患。以下梳理4类常见误区及对应避免方法。​一、误区一:忽视放电枪校准,直接开展测试​部分用户认为“新设备无需校准”,或长期不校准放电枪,直接用其进行测试。LONGPEAK静电放电发生器的放电枪电极易因磨损、污染导致放电电流偏差,若不校准,可能将合格产品误判为不合格,或遗漏真实抗...
  • 扫描电镜测试数据的定量分析及其在科研中的意义

    2025-07-28 扫描电镜测试数据蕴含着丰富的微观结构信息,对其进行定量分析在科研领域有着至关重要的意义。在定量分析方面,首先是对图像中特征尺寸的测量。通过专业的图像分析软件,可以精准地量取材料微观结构的粒径大小、孔隙直径等关键尺寸参数。例如在纳米材料研究中,准确知晓纳米颗粒的直径分布范围,能为评估其性能及进一步改进制备工艺提供依据。同时,对于晶界、相界等界面的距离测量也很重要,有助于了解材料的结晶特性以及不同相之间的相互作用情况。另外,对元素成分的定量分析也是重要一环。结合能谱仪等附件所获取...
  • 半导体闩锁测试仪基本操作,新手不得不看

    2025-06-19 在半导体器件制造与质量检测过程中,闩锁效应(Latch-up)测试是一项至关重要的可靠性评估项目。由于CMOS等工艺结构的固有特性,芯片在受到特定电压、电流或辐射干扰时可能引发寄生双极晶体管导通,导致器件损坏。为预防此类风险,半导体闩锁测试仪被广泛用于评估集成电路对闩锁效应的抗扰能力。掌握其基本操作流程,是确保测试结果准确、设备稳定运行的前提。一、测试前准备1.确认测试样品状态检查待测芯片是否完好无损,引脚无弯曲、氧化或短路现象。同时查阅芯片规格书,明确其供电电压范围、较大工...
  • EMKU环境测试箱基本操作,新手不得不看

    2025-05-19 EMKU环境测试箱是广泛应用于电子、汽车、航空航天、通信、材料等领域的关键设备,用于模拟高温、低温、湿热、循环温湿度等多种环境条件,以检测产品在不同环境下的性能稳定性与可靠性。对于初次接触该设备的新手来说,掌握其基本操作流程和注意事项,不仅能提升测试效率,还能有效延长设备使用寿命,避免误操作带来的安全隐患。一、开机前的准备事项在使用EMKU环境测试箱之前,必须做好以下准备工作:检查电源连接:确认供电电压是否符合设备要求(通常为220V或380V),并确保接地良好;查看制冷系统...
  • 如何在较短的时间内学会安装日本TET半导体静电测试仪的方法

    2024-06-26 学习如何安装日本TET半导体静电测试仪可以在短时间内完成,只要您遵循以下步骤和建议:1.仔细阅读用户手册-在开始之前,认真阅读并理解用户手册中的安装说明和安全指南。-对照手册检查所有配件和附件是否齐全,包括测试仪本体、电源线、接地线、测试夹具等。2.准备工作-确保工作台平整且稳定,以防止在安装过程中发生倾覆。-收集所有必要的工具,如螺丝刀、扳手等,并确保它们都是绝缘的。3.安装测试仪-根据手册中的图示,将测试仪放置在合适的位置,并固定好。-连接电源线,并确保电源电压与测试仪的...
  • 日本半导体闩锁测试仪小维护,大作用!

    2024-06-24 日本半导体闩锁测试仪是一种高精度的电子设备,用于测试半导体器件的性能和稳定性。尽管这类设备通常设计得相当可靠,但像所有电子产品一样,它们也需要一定的维护和保养,以确保长期的准确性和效率。1.清洁与除尘-定期清洁测试仪的外壳和接口,避免灰尘和脏污影响设备的散热和电气接触。-使用干燥、无静电的布料轻轻擦拭液晶屏幕和其他敏感部位,以防止划痕和污染。2.内部检查-定期检查内部连接器和插头,确保它们牢固可靠。-检查内部线路是否有松动或腐蚀,如有问题应及时处理。3.电池维护-如果测试仪配...
  • 日本半导体静电测试仪操作规范与维护保养知识

    2024-04-23 随着科技的飞速发展,半导体行业在现代社会中扮演着越来越重要的角色。作为半导体制造过程中重要的设备,静电测试仪对于保证产品质量和性能至关重要。本文将介绍日本半导体静电测试仪的操作规范和维护保养知识,以帮助您更好地使用和维护这一关键设备。一、操作规范1.熟悉设备:在使用静电测试仪之前,务必仔细阅读设备说明书,了解设备的功能、性能参数和操作方法。2.安全操作:确保佩戴防静电手环、防静电手套等防护用品,避免静电对设备和人员造成伤害。同时,确保设备接地良好,防止电击事故。3.规范操作:...
  • TET半导体CDM测试仪的故障排除

    2023-12-19 TET半导体CDM测试仪是一种精密的测试仪器,用于检测和测量半导体产品的性能。然而,当它出现故障时,排除故障可能会是一项挑战。首先,了解故障排除的步骤非常重要。以下是一些基本的故障排除步骤:1.检查电源:确保测试仪器的电源连接正常。如果测试仪器没有接通电源,则无法进行测试。检查电源线是否接触良好,电源插头是否松动。2.检查测试仪器是否正确连接:测试仪器需要正确连接到计算机或其他设备才能正常工作。检查连接是否牢固,是否使用了正确的连接线。3.检查测试软件:测试软件是测试仪器的重...
共 12 条记录,当前 1 / 2 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

Copyright © 2025 上海途哲电子设备有限公司 Al Rights Reserved
备案号:沪ICP备19022890号-2

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

扫码添加微信
微信

联系

18916012783

联系
顶部