新闻资讯

NEWS INFORMATION

当前位置:首页新闻资讯

  • EMKU高低温箱日常维护保养指南:关键部件维护与易损件更换建议

    2026-01-21 EMKU高低温箱作为精密的环境测试设备,其稳定运行离不开规范的日常维护保养。压缩机作为制冷系统的核心部件,其保养质量直接关系到设备的制冷效率和寿命。日常维护中,需要定期检查压缩机运行状态,包括观察运行电流是否在额定范围内、听运行声音是否异常、检查油位是否正常。建议每运行500小时检查一次压缩机润滑油,每运行2000小时更换一次润滑油,确保润滑系统清洁。同时,要定期清理压缩机散热器上的灰尘,保持良好散热,避免因散热不良导致压缩机过载。密封条是保证箱体密封性的关键易损件,其老化会...
  • 扫描电镜测试的样品制备要求与导电处理方法​

    2025-12-17 扫描电镜测试​利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描,通过检测二次电子、背散射电子等信号获得高分辨率的微观形貌与成分信息。由于电子束与样品相互作用依赖良好的导电性和真空兼容性,样品制备与导电处理直接决定成像质量与测试成功率。一、样品制备基本要求​尺寸与形状​样品需能放入样品仓且不与极靴或检测器碰撞,常规台式SEM样品台直径多在10–32mm范围,高度表面清洁​去除油污、灰尘与松散颗粒,可用无水乙醇、丙酮等溶剂超声清洗,必要时等离子清洗去除有机残留。表面污染会在成像中产生假象或影响成...
  • TEM/SEM/FIB测试中的常见误区与数据误读警示

    2025-11-22 在材料科学、半导体、新能源等前沿领域,TEM/SEM/FIB测试已成为纳米尺度表征的“标配”。然而,由于设备复杂、样品敏感、操作专业性强,实践中常因认知偏差或操作不当导致数据误读,甚至得出错误结论。常见误区一:将SEM图像直接当作真实三维形貌。SEM仅提供表面二维投影信息,高深宽比结构(如纳米线阵列)易因电子阴影效应产生视觉扭曲。若未结合多角度成像或3D重构,可能误判孔隙连通性或颗粒堆叠状态。误区二:忽视FIB制样引入的人为损伤。FIB使用镓离子束切割样品,虽精度达纳米级,但...
  • 高速摄像机FASTCAM选购有技巧,切勿盲目

    2025-10-21 在汽车碰撞测试、材料动态断裂分析、生物运动捕捉等高速瞬态现象研究中,高速摄像机是记录关键帧的“时间显微镜”。高速摄像机FASTCAM作凭借高帧率、高分辨率和出色的低光照性能备受青睐。但面对不同型号(如FASTCAMSA-Z、MINIUX等)的参数差异,选购时若盲目追求“高指标”,可能导致性能过剩或功能缺失。掌握以下选购技巧,才能精准匹配需求。一、明确核心需求:高速摄像机的核心参数是帧率(每秒拍摄帧数)和分辨率(图像像素数量),二者相互制约——帧率越高,单帧分辨率往往越低。因此...
  • 新手必读:EMKU冷热冲击试验箱的快速上手指南与操作步骤

    2025-09-18 EMKU冷热冲击试验箱是用于模拟产品在高低温异常环境间快速转换(如从-40℃骤升至85℃,或反之)的可靠性测试设备,广泛应用于电子元件、汽车零部件、航空航天材料等领域的质量验证。对于新手而言,掌握其快速上手指南与规范操作步骤,是安全、高效开展试验的基础。一、操作前准备:1.环境要求:试验箱需放置在平整、通风良好的室内,避免阳光直射(防止箱体温度受外界干扰)与靠近热源(如暖气、烤箱)。环境温度建议控制在5-35℃(超出此范围可能影响制冷/制热效率),地面承重需满足设备自重(通常...
  • EMKU冷热冲击试验箱怎么挑?关键性能参数看这3点

    2025-08-21 EMKU冷热冲击试验箱用于模拟高低温快速切换环境,考核电子、汽车、航空航天等领域产品的耐温冲击性能。挑选时无需盲目关注附加功能,重点把控以下3个关键性能参数,即可选出适配需求的高性价比设备。​一、关键参数1:温度冲击能力——匹配试验严苛度​温度冲击能力是核心指标,需结合试验标准(如IEC60068-2-14)与产品特性选择,主要看两方面:​温度范围:常规型号高温区上限多为150℃、200℃,低温区下限为-40℃、-60℃;若测试新能源电池、航空部件,需选高温达250℃、低温至...
  • 材料表征测试数据的处理与分析技巧全解析

    2025-07-23 材料表征测试数据是深入了解材料性能、结构等关键信息的依据,掌握其处理与分析技巧至关重要。在数据处理方面,首先要进行数据的整理与筛选。从各类仪器获取的原始数据往往量大且繁杂,需剔除明显异常的数据点,比如因仪器突发故障或外界干扰产生的错误数值。对于重复测量的数据,可计算平均值来降低偶然误差的影响,但要注意保留数据的标准差等反映离散程度的指标,以展现数据的可靠性范围。同时,要根据测试手段的特性对数据进行适当的单位换算、归一化处理等,像X射线衍射数据中将不同角度的强度值进行归一化,便...
  • 半导体HBM测试仪延长使用寿命的建议

    2025-06-12 随着半导体技术的不断发展,高带宽存储器(HBM,HighBandwidthMemory)因其较好的数据传输性能,在高性能计算、人工智能和图形处理等领域得到广泛应用。而半导体HBM测试仪作为评估其电气性能与信号完整性的重要设备,承担着确保产品质量和稳定性的关键任务。为了充分发挥HBM测试仪的投资效益,延长其使用寿命,必须从日常使用、维护保养以及环境管理等多个方面入手。一、规范操作流程,避免人为误操作HBM测试仪结构精密,涉及高速信号采集、电源管理、探针定位等复杂系统。因此,操作...
共 21 条记录,当前 1 / 3 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 

Copyright © 2026 上海途哲电子设备有限公司 Al Rights Reserved
备案号:沪ICP备19022890号-2

技术支持:化工仪器网   管理登录   sitemap.xml

扫码添加微信
微信

联系

18916012783

联系
顶部