日本半导体MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试，包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

日本半导体HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试，包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

日本TET半导体静电测试仪阵容有： ●1100-ESD（ESD试验专用型号） ●1100-CDM （CDM试验专用型号） ●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本半导体闩锁测试仪$n系列测试机台阵容有：$n●7000X-E（专用于ESD试验）$n●7000X-L（专用于闩锁试验）$n●7000X-EL（用于ESD/闩锁试验）

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $nTET半导体CDM测试仪阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $n日本TET静电测试仪测试机台阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）