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  • HBM、MM测试仪
    HBM、MM测试仪

    HBM、MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

    更新时间:2023-11-09型号:
  • 7000X-E/X-L/X-EL日本HBM测试仪7000X
    7000X-E/X-L/X-EL日本HBM测试仪7000X

    日本HBM测试仪7000X$n系列测试机台阵容有:$n●7000X-E(专用于ESD试验)$n●7000X-L(专用于闩锁试验)$n●7000X-EL(用于ESD/闩锁试验)

    更新时间:2023-11-09型号:7000X-E/X-L/X-EL
  • 半导体闩锁测试仪7000B
    半导体闩锁测试仪7000B

    半导体闩锁测试仪7000B产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。

    更新时间:2023-11-09型号:
  • 1100-ESD/CDM/LUP日本半导体静电测试仪
    1100-ESD/CDM/LUP日本半导体静电测试仪

    日本半导体静电测试仪阵容有: $n●1100-ESD(ESD试验专用型号)$n●1100-CDM (CDM试验专用型号)$n●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)

    更新时间:2023-11-09型号:1100-ESD/CDM/LUP
  • 7000B-E/B-L/B-EL日本TET静电ESD测试仪
    7000B-E/B-L/B-EL日本TET静电ESD测试仪

    日本TET静电ESD测试仪$n该系列测试机台阵容有:$n●7000B-E(专用于ESD试验)$n●7000B-L(专用于闩锁试验)$n●7000B-EL(用于ESD/闩锁试验)

    更新时间:2023-11-09型号:7000B-E/B-L/B-EL
  • 日本HBM测试仪
    日本HBM测试仪

    日本HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

    更新时间:2023-11-09型号:
  • 日本半导体MM测试仪
    日本半导体MM测试仪

    日本半导体MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

    更新时间:2023-11-09型号:
  • 日本半导体HBM测试仪
    日本半导体HBM测试仪

    日本半导体HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。

    更新时间:2023-11-09型号:
  • 1100-ESD/CDM/LUP日本TET半导体静电测试仪
    1100-ESD/CDM/LUP日本TET半导体静电测试仪

    日本TET半导体静电测试仪阵容有: ●1100-ESD(ESD试验专用型号) ●1100-CDM (CDM试验专用型号) ●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)

    更新时间:2023-11-07型号:1100-ESD/CDM/LUP
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