日本HBM测试仪7000X$n系列测试机台阵容有:$n●7000X-E(专用于ESD试验)$n●7000X-L(专用于闩锁试验)$n●7000X-EL(用于ESD/闩锁试验)
半导体闩锁测试仪7000B产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。
日本半导体静电测试仪阵容有: $n●1100-ESD(ESD试验专用型号)$n●1100-CDM (CDM试验专用型号)$n●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)
日本TET静电ESD测试仪$n该系列测试机台阵容有:$n●7000B-E(专用于ESD试验)$n●7000B-L(专用于闩锁试验)$n●7000B-EL(用于ESD/闩锁试验)
日本半导体MM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本半导体HBM测试仪本产品可进行器件级ESD测试,包括CDM测试。可应用于器件开发评价、器件认证和进厂测试、评价、使用环境评价等各种试验用途。
日本TET半导体静电测试仪阵容有: ●1100-ESD(ESD试验专用型号) ●1100-CDM (CDM试验专用型号) ●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)
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