日本半导体闩锁测试仪$n系列测试机台阵容有：$n●7000X-E（专用于ESD试验）$n●7000X-L（专用于闩锁试验）$n●7000X-EL（用于ESD/闩锁试验）

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $nTET半导体CDM测试仪阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $n日本TET静电测试仪测试机台阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本TET半导体ESD测试仪$n该系列测试机台阵容有：$n●7000B-E（专用于ESD试验）$n●7000B-L（专用于闩锁试验）$n●7000B-EL（用于ESD/闩锁试验）

日本TET静电产品简介7000X系列测试机台阵容有：●7000X-E（专用于ESD试验）●7000X-L（专用于闩锁试验）●7000X-EL（用于ESD/闩锁试验）产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定】

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $nCDM测试仪测试机台阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

产品简介●采用半导体开关实现高精度的测试。●重复频率在0.4Hz~ 400Hz的范围内可变。●方便切换耦合电容。产品用途再现电压逐步衰减的噪声 (衰减振荡波)、评估搭载电子设备的耐性。半导体开关的采用，跟以往比实现了高信赖性和高精度。

电快速瞬变脉冲群模拟器产品简介●满足IEC 61000-4-4 Ed.3标准。●搭载预检功能，可简单的进行测试前的点检。●可进行差模试验，实现模拟实际产生故障时的测试。

ESD/闩锁试验机台/7000B系列产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。