日本半导体静电测试仪

日本TET东京电子交易株式会社 ESD1100系列共分为3个型号，分别是：

●1100-ESD（ESD试验专用型号）

●1100-CDM （CDM试验专用型号）

●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本半导体静电测试仪可广泛应用于器件的开发设计评价、认证接收检查、品保评价、操作环境评价等各种试验用途。

ESD试验是测试静电放电干扰（ESD脉冲）和器件破损之间的关系。ESD干扰有HBM（人体带电模型）和MM（机械带电模型）两种。Model 1100-ESD可以进行这两种干扰的测试。另外，还可以通过选件，追加想要进行的ESD测试。可以对64 pin器件进行全自动的满足标准的全引脚组合的测试。另外，带有简单的进行ESD波形自动测试的软件，准备好示波器、电流探头、衰减器后，可以确认满足标准的波形，安心的进行ESD试验。

日本半导体静电测试仪本机台在三轴构造的机械手上装配HBM或MM的ESD发生模块（EPG模块），可进行满足国内外标准的ESD试验。

CDM试验有感应充电法（FI-CDM）和直接充电法（DI-CDM）两种。两种的区别是给器件充电的方法不同，但都是模拟充电好的器件引脚和金属接触时的干扰。本试验装置这两种充电方式都可以进行试验。

LUP闩锁试验是测试由于外来噪声（触发源）引起的器件闩锁抗扰度。本装置装备了电流脉冲、电源过电压脉冲作为触发源。闩锁现象通过施加触发后电源电流的增加来判定。为了获得稳定的试验结果，可能需要提供上拉/下拉以稳定Inom，本装备通过专用的夹具板，用跳线连接。

*可通过联系我们咨询或自行根据希望的用途来选择型号*