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日本TET半导体静电测试仪

简要描述:日本TET半导体静电测试仪阵容有:
●1100-ESD(ESD试验专用型号)
●1100-CDM (CDM试验专用型号)
●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)

  • 产品型号:1100-ESD/CDM/LUP
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-11-07
  • 访  问  量:487
详细介绍
品牌TET应用领域能源,电子,航天,汽车,综合

日本TET东京电子交易株式会社 ESD1100系列共分为3个型号,分别是:

●1100-ESD(ESD试验专用型号)

●1100-CDM (CDM试验专用型号)

●1100-LUP (LATCH UP闩锁 试验专用型号)

日本TET半导体静电测试仪可广泛应用于器件的开发设计评价、认证接收检查、品保评价、操作环境评价等各种试验用途。

ESD试验是测试静电放电干扰(ESD脉冲)和器件破损之间的关系。ESD干扰有HBM(人体带电模型)和MM(机械带电模型)两种。Model 1100-ESD可以进行这两种干扰的测试。另外,还可以通过选件,追加想要进行的ESD测试。可以对64 pin器件进行全自动的满足标准的全引脚组合的测试。另外,带有简单的进行ESD波形自动测试的软件,准备好示波器、电流探头、衰减器后,可以确认满足标准的波形,安心的进行ESD试验。

日本TET半导体静电测试仪本机台在三轴构造的机械手上装配HBM或MM的ESD发生模块(EPG模块),可进行满足国内外标准的ESD试验。

CDM试验有感应充电法(FI-CDM)和直接充电法(DI-CDM)两种。两种的区别是给器件充电的方法不同,但都是模拟充电好的器件引脚和金属接触时的干扰。本试验装置这两种充电方式都可以进行试验。

LUP闩锁试验是测试由于外来噪声(触发源)引起的器件闩锁抗扰度。本装置装备了电流脉冲、电源过电压脉冲作为触发源。闩锁现象通过施加触发后电源电流的增加来判定。为了获得稳定的试验结果,可能需要提供上拉/下拉以稳定Inom,本装备通过专用的夹具板,用跳线连接。

*可通过联系我们咨询或自行根据希望的用途来选择型号*


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