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PRODUCTS CNTER蔡司ZEISS 聚焦离子束电镜Crossbeam系列无论是切割、成像或进行 3D 分析,Crossbeam 系列都能极大地提升您的应用体验。使用 Gemini 电子光学系统,您可以从扫描电子显微镜(SEM)图像中获取真实的样品信息。Ion-sculptor FIB 镜筒引入了全新的 FIB 加工方法,能够减少样品损伤,提升样品质量,从而加快实验进程。
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品牌 | ZEISS/蔡司 |
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蔡司ZEISS 聚焦离子束电镜Crossbeam系列详细说明:
蔡司ZEISS 聚焦离子束电镜Crossbeam系列探索全新的 FIB 加工方法--从大尺寸到纳米精度切割:
充分利用 lon-sculptor FIB 镜筒在低电压下的出色性能来提升样品质量。降低精密样品的非晶化程度,可在减薄抛光后获得出色的样品效果,同时具有快速切换束流的优势,加速 FIB 的应用。
您也可以选择出色的大束流性能,使 FIB-SEM 3D 应用的采集速度提高一倍。图像采集的过程十分稳定确保您获得准确且高度可重复的结果。镜筒设计使其束流范围横跨五个数量级,即从1pA 到 100 nA。高达 100 nA 的束流能快速准确地移除材料,并完成切割流程同时,低束流下可获得小于3nm 的高 FIB分辨率。在2 μA 的发射电流下工作时,镓聚焦离子束源,即 LMIS(液态金属离子源)的常规使用寿命高于 3000 uAh。通过自动离子源加热功能,Crossbeam 系列产品能够完成超长持续时间的实验。
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