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PRODUCTS CNTERTET东京电子株式会社 ESD微型器件兼容性测试机台 EMD-625E:本测试设备兼容被测器件的各种尺寸,特别是可以支持极小间距的器件,且方便排列器件进行测试。可选择进行手动操作和半自动测试,在施加静电后,可支持DC测试。
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本产品对于目视困难的微细间距DUT和微小尺寸DUT等半导体器件可进行准确的探测。
另外,可不用探针进行晶圆等级的ESD试验:
1.适合各种形状的样品。
2.理想的微型器件ESD测试。
3.可通过选件实现HBM,MM测试。
4.HBM测试最高8KV。
ESD 模拟器
·MR/GMR头
·小零件、芯片
·LCD 板
·TR、IC 二极管等
·LCD 板·小模块
·PC 板功率,信号 Pins
·lC 卡、Memory 卡
通用指标
·测试 pin: 单 pin
·满足标准: JEDEC,AEC,EOS
·DC 测试功能: 最大 30V/ 1A,(最小10mV/10nA )*
·测试电压: HBM 125V~8KV : MM 10V~2KV·ESD 脉冲数: 1~10 或连续
·DUT 固定部件: IC 插孔或仅被测件
·HBM 应用
·HBM 应用和破坏判断功能
·MM 应用
·MM 测试和破坏判断功能
详情请联系
公司邮箱: jfyp@tu-zhe.cn
服务热线: 021-61656613
公司地址: 上海市浦东新区金桥路939号207室