日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $nTET半导体CDM测试仪阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本TET东京电子株式会社 ESD1100系列 $n日本TET静电测试仪测试机台阵容有： $n●1100-ESD（ESD试验专用型号）$n●1100-CDM （CDM试验专用型号）$n●1100-LUP （LATCH UP闩锁 试验专用型号）

日本TET半导体ESD测试仪$n该系列测试机台阵容有：$n●7000B-E（专用于ESD试验）$n●7000B-L（专用于闩锁试验）$n●7000B-EL（用于ESD/闩锁试验）

ESD/闩锁试验机台/7000B系列产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。

ESD/闩锁试验机台/7000X系列产品简介7000X系列测试机台阵容有：●7000X-E（专用于ESD试验）●7000X-L（专用于闩锁试验）●7000X-EL（用于ESD/闩锁试验）

瞬态抗扰度测试系统产品简介符合多种测试需求：电流测试 4.4A/电压测试 25V产品用途单机提供多种解决方案，可见详情或联系我们。